基于雙通道模式采集的信號回波幅度及聲程,對構(gòu)件進行遠距離CB掃描成像
- 連續(xù)的深度信號數(shù)據(jù)記錄采用基于時間或步進編碼器的模式,可沿聲程方向記錄缺陷長度及寬度的兩維圖像
- 以兩組探頭移動軌跡線為端面,對構(gòu)件進行不同監(jiān)控距離下的雙側(cè)面性掃描并記錄與回放完整的A超過程信號
- 雙通道遠距離CB掃描成像數(shù)據(jù)評估以下特點:
可以根據(jù)檢測圖像進行缺陷定量分析,包括X – Y坐標的投影尺寸;
將檢測過程中每一點(兩組深度監(jiān)控范圍內(nèi))的A掃描數(shù)據(jù)回放和分析,支持缺陷完整顯示配合動態(tài)回波模式下的分析;
可對雙通道探頭分別檢測的成像結(jié)果進行不同增益值下的動態(tài)彩色濾波等級調(diào)節(jié);
可基于DAC/TCG/DGS標準化曲線模式,對不同聲程距離范圍內(nèi)的信號進行采集及分析
典型應(yīng)用:對板材、彎/直管段及容器等的內(nèi)外壁進行遠距離快速檢測(可配合爬行器等自動檢測裝置同步檢測更大范圍)
基于雙通道模式采集的回波幅度及延遲時間,對構(gòu)件內(nèi)部進行TOFD掃描成像
- 連續(xù)的深度信號數(shù)據(jù)記錄采用基于時間或步進編碼器的模式,可對被檢測件的深度及長度進行兩維的圖像記錄
- 可同時顯示兩組探頭移動軌跡線上不同深度監(jiān)控范圍內(nèi)的兩維剖面圖并連續(xù)記錄與回放完整的A超過程信號
- 雙通道TOFD掃描成像數(shù)據(jù)評估具有以下特點
通過側(cè)向波的回波記錄對表面缺陷加強解析,時差與深度轉(zhuǎn)換模式加強了對缺陷檢測的靈敏度及精確度
可對兩組深度成像結(jié)果進行不同增益、延時、探頭間距、脈沖調(diào)節(jié)等參數(shù)下的校正,并做TOFD圖像對比
可對不同深度下的缺陷進行時差或深度模式下的X-Y或Z-Y坐標定量分析
可對兩組帶有同步A超衍射信號的TOFD圖像分別進行暴光、逆轉(zhuǎn)、濾波、抑制、放大等各種功能下的精確分析
典型應(yīng)用:可配合爬行器等自動檢測裝置對壁厚焊縫及內(nèi)部材料的快速檢測,同步對不同深度范圍分別聚焦檢測。